为什么可以通过测量样品的质量就可以知道物质的磁化率？

　 当测量样品处于一个非均匀的磁场中。沿样品的轴心方向(z)存在一个磁场强度δH/δz，样品沿z方向受到磁力的作用，它的大小为：
　　
　 式中H为磁场中心磁场强度，H₀为样品顶端处的磁场强度，c为样品体积磁化率，c_空为空气的体积磁化率，S为样品的截面积（位于X、Y平面），μ₀为真空磁导率。
　 通常H₀即为当地的地磁场强度，约为40A·m^－1，一般可略去不计，则作用于样品的力为：
　　　　
　由于天平分别称装有被测样品的样品管和不装样品的空样品管在有外加磁场和无外加磁场时的质量变化，则有：
　
　

式中：h为样品的实际高度，m为无外加磁场时样品的质量，M为样品的摩尔质量，ρ为样品密度（固体样品指装填密度）。
　 （7）式中真空磁导率μ=4π×10^－7N·A^－2；空气的体积磁化率X_空=3.64×10^－7（SI单位），但因样品体积很小，故常予忽略。该式右边的其它各项都可通过实验测得，因此样品的摩尔磁化率可由（7）式通过测量样品的质量计算得到。